हाँ3-200L2-2-37KW-380V-IP55

रूपरेखा आयाम

मुख्य तकनीकी पैरामीटर

उत्पाद परिचय

यदि तीसरे शीतलक का उपयोग किया जाता है, तो तापमान वृद्धि को प्राथमिक या द्वितीयक शीतलक के तापमान से ऊपर मापा जाएगा जैसा कि तालिका 5 में निर्दिष्ट है। ध्यान दें एक मशीन को इस तरह व्यवस्थित और ठंडा किया जा सकता है कि तालिका 5 के एक से अधिक आइटम लागू होते हैं, जिस स्थिति में अलग-अलग संदर्भ शीतलक विभिन्न वाइंडिंग के लिए लागू हो सकते हैं।

एक के थर्मल परीक्षण के दौरान। सी । मशीन की आपूर्ति का एचवीएफ {{0}},015 से अधिक नहीं होगा और वोल्टेज की प्रणाली का नकारात्मक-अनुक्रम घटक सकारात्मक-अनुक्रम घटक के 0,5% से कम होगा, का प्रभाव शून्य-अनुक्रम घटक को हटाया जा रहा है।
सहमति से, वोल्टेज की प्रणाली के नकारात्मक-अनुक्रम घटक के बजाय धाराओं की प्रणाली के नकारात्मक-अनुक्रम घटक को मापा जा सकता है। धाराओं की प्रणाली का नकारात्मक-अनुक्रम घटक सकारात्मक-अनुक्रम घटक के 2,5% से अधिक नहीं होना चाहिए।

यदि वाइंडिंग का तापमान प्रतिरोध की वृद्धि से निर्धारित किया जाना है, तो प्रारंभिक वाइंडिंग का तापमान शीतलक से 2 K से अधिक भिन्न नहीं होगा।

जब किसी मशीन का परीक्षण अल्प समय रेटिंग (ड्यूटी प्रकार S2) पर किया जाना हो तो थर्मल परीक्षण की शुरुआत में इसका तापमान शीतलक के टेलीपेचर के 5 K के भीतर होना चाहिए। किसी मशीन का परीक्षण शीतलक तापमान के किसी भी सुविधाजनक मूल्य पर किया जा सकता है। तालिका 12 (अप्रत्यक्ष ठंडी वाइंडिंग के लिए) या तालिका 15 (प्रत्यक्ष ठंडी वाइंडिंग के लिए) देखें।

परीक्षण के दौरान शीतलक के तापमान के लिए अपनाया जाने वाला मूल्य परीक्षण की अवधि की अंतिम तिमाही के दौरान समान अंतराल पर लिए गए तापमान डिटेक्टरों की रीडिंग का औसत होगा। शीतलक के तापमान में बदलाव के बाद बड़ी मशीनों के तापमान में बदलाव के समय अंतराल के कारण होने वाली त्रुटियों को कम करने के लिए, ऐसे बदलावों को कम करने के लिए सभी उचित सावधानियां बरती जाएंगी।

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